RESUMO
A fluorescência de raios-X portátil (pXRF) pode ser considerada como um dos principais avanços para a caracterização química de diferentes materiais. A umidade das amostras pode afetar o desempenho dessa análise. Assim, foi realizado um ensaio para verificar o efeito da umidade na concentração elementar obtida via pXRF. Como inovação, objetivou-se estabelecer relações (regressão) entre o efeito da umidade nos resultados do pXRF e o número atômico (Z) dos elementos. Três amostras de referência certificadas (CRM) foram utilizadas: OREAS 100a, OREAS 101a e OREAS 101b. As amostras foram saturadas com água destilada (0.68 g g-1) e secas à temperatura ambiente. Durante a secagem, as concentrações dos elementos (C) foram determinadas nas amostras com diferentes teores de água usando um pXRF. Para cada teor de água, a relação Cúmido/Cseco foi determinada e plotada em função da umidade, ajustando-se modelos lineares e exponenciais. O coeficiente de atenuação (σ) também foi calculado. Altos valores de σ significam maior influência da umidade. As porcentagens de recuperação obtidas permitiram uma determinação qualitativa, entretanto, a concentração da maioria dos elementos estudados reduziu significativamente com o aumento da umidade. Não foi possível a modelagem do efeito da umidade, avaliada pelo σ, em função do número atômico. Comparativamente, elementos com elevado número atômico e identificados pela linha Lα foram mais impactados que elementos com números atômicos menores identificados pela linha Kα. Ti, Cr e Fe não foram significativamente influenciados pela umidade e o Sr foi o mais impactado. Os resultados encontrados contribuem para a tomada de decisão antes da caracterização utilizando pXRF, obrigando o uso de amostras secas para aqueles elementos impactados ou o uso de fatores de correção.
Termos para indexação:
Sensores proximais; espalhamento de raios-X; análise espectrométrica.
Thumbnail
Thumbnail
