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Um método simples para o projeto ótimo de gráficos de X

A simple method for optimal X-chart design

É desenvolvido um método simples e eficiente para a seleção de parâmetros (tamanho de amostra, intervalo de tempo entre amostras, e largura dos limites de controle) para gráficos de <img border=0 id="_x0000_i1026" src="/img/revistas/gp/v5n3/a04img01.gif"> para controle estatístico de processos, que fornece soluções ótimas em termos da relação entre a rapidez de detecção e os recursos alocados à inspeção. O método é superior a procedimentos baseados em propriedades estatísticas do gráfico (tais como o ARL) e à adoção de valores empíricos gerais, e não apresenta as dificuldades de implementação dos métodos econômicos (economic design): não requer dados difíceis de obter ou estimar nem programas de computador para solução. Os resultados obtidos diferem de alguns resultados bem difundidos na literatura; mostra-se que os últimos são subótimos, por serem baseados em modelos que desconsideram aspectos importantes do problema. Uma contribuição adicional do método é o tratamento explícito e detalhado de restrições opcionais ao tamanho de amostra e/ou ao intervalo de tempo entre amostras. A simplicidade do método o torna viável para implementação em qualquer ambiente, e também apropriado para a sala de aula.

gráfico de <img border=0 id="_x0000_i1027" src="/img/revistas/gp/v5n3/a04img01.gif">; gráficos de Shewhart; controle estatístico de processo; controle estatístico de qualidade; projeto de gráficos de controle


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