Um aspecto limitante a plena interpretação de imagens geradas por microscopia de força atômica é a interação entre a superfie varrida e ponta de varredura do sistema gerando artefatos de imagens. Para a identificação desses artefatos, propomos neste texto, um algoritmo simples capaz de assinalar esse tipo de irregularidade de imagem. A medida tem por princípio a identificação de ângulos similares formados entre dois pontos sobre a espécie varrida. O potencial de aplicação do método proposto é aqui ilustrado sobre um filme de polissacarídeo quitosana. As imagens geradas são comparadas entre si, indicando regiões de artefatos típicos gerados pela ponta de varredura. Este algoritmo apresenta-se como uma ferramenta útil a cientistas e usuários, permitindo a separação de aspectos reais e artificiais, que são fundamentais para uma melhor caracterização e medida.
