Amostras de carbeto de silício (SiC) foram sinterizadas com dois aditivos: AlN-Y2O3 ou AlN-CRE2O3. CRE2O3 é um óxido misto formado por Y2O3 e óxidos de terras raras. A estrutura cristalina das fases nas amostras foi analisada através de difração de raios X de alta resolução com fonte de luz síncrotron. Os resultados de refinamento do óxido misto pelo método de Rietveld mostraram a formação de uma solução sólida. Em ambas as amostras preparadas usando AlN- Y2O3 ou AlN- CRE2O3 foram detectados politipos 3C (fase beta) e 6H (fase alfa). Os resultados estruturais e microestruturais das duas amostras mostraram-se similares. Esta é uma indicação da viabilidade do uso de CRE2O3 em substituição a Y2O3 como aditivo para a obtenção de materiais cerâmicos densos.
SiC; fase líquida; difração de raios X; síncrotron; método de Rietveld