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Estudos dos padrões de não aleatoriedade dos gráficos de controle de Shewhart: um enfoque probabilístico

Studies on non-random patterns in Shewhart control charts

Além de investimento em novas tecnologias e modernização do parque industrial, a competitividade dos produtos brasileiros está ligada ao aumento de produtividade. O Controle Estatístico de Processo (CEP), junto com os gráficos de controle, inseriu-se neste contexto no que diz respeito ao controle das características significativas do produto e do processo, em tempo real, garantindo níveis de qualidade, a um custo exigido pelo mercado. Um procedimento importante é a interpretação dos gráficos de controle. Um estudo foi feito para ilustrar e discutir padrões de não aleatoriedade, que auxiliam na interpretação de tais gráficos. Alguns padrões de não aleatoriedade foram ilustrados e, por meio de cálculo de probabilidade, mostrou-se quais deles rejeitaram a hipótese de controle estatístico, a um nível de significância pré-especificado. Concluiu-se que os padrões mencionados na literatura não eram tão informativos. No que diz respeito ao nível de significância, observou-se então que em alguns padrões a um certo nível de significância retornaram resultados diferentes dos mencionados na literatura.

Controle Estatístico de Processo - CEP; Padrões de não aleatoriedade; Processo estável; Causas especiais; Gráfico de controle


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