Poli(tiofeno) (PT) foi estudado através de técnicas de dessorção estimulada por elétrons (ESID) e fótons (PSID) acopladas à espectrometria de massas por tempo-de-voo (TOF-MS), a fim de investigar a resposta desse polímero, quando submetido a feixes de elétrons e fótons. Íons atômicos de enxofre e suas contribuições isotópicas foram claramente identificados. A intensidade máxima das curvas de rendimento iônico de ESID foi medida para todos os íons em cerca de 900 eV, estão relacionadas com o processo de ionização do carbono 1s e explicadas em termos do processo Auger. O estudo da influência de elétrons secundários no processo de desorção foi também realizado, o que é altamente importante, uma vez que envolvem níveis mais baixos de energia, afetando as propriedades de interesse de materiais fotovoltaicos. A análise de TOF-PSID de filmes de PT com diferentes espessuras mostrou um aumento na eficiência da dessorção de espécies mais pesadas, como C3HS+. Este resultado foi atribuído aos elétrons secundários originados nas camadas internas do material.
