Este artigo descreve o uso da técnica de difração de elétrons retroespalhados (EBSD) para caracterizar a microestrutura (especialmente a sua morfologia e constituição) do metal base (MB), zona termicamente afetada (ZTA) e zona fundida (ZF) de um aço inoxidável "lean" duplex (AILD). Esta técnica fornece vantagens devido à sua simplicidade de uso e maior densidade de informação em comparação com a obtida por técnicas tradicionais de caracterização como as microscopias óptica (MO), eletrônica de varredura (MEV) e eletrônica de transmissão (MET). O uso de EBSD juntamente com microscopia de orientação de imagem (OIM) para compreender as diferentes transformações de fase ferrita-austenita é discutido. Medidas de microdureza Vickers foram feitas e não foi achada nenhuma diferença significativa entre as diferentes zonas. A função distribuição de orientação dos grãos (FDO) mostrou que na há mudanças significativas na textura cristalográfica nas amostras após a solda. As vantagens do uso de microscopia eletrônica de varredura juntamente com EBSD para analisar a microestrutura e o desenvolvimento da textura são também discutidas.
Aço inoxidável duplex; soldagem; textura; EBSD; MEV
